De Electrical Instrumentation Branch van de China Instrumentation Industry Association zal van 13 tot 14 april 2016 de "32e sessie van het China Electrotechnical Instrumentation Industry Development Technology Seminar and Exhibition" in Ningbo houden van 13 tot 14 april 2016. De zesde raadsvergadering van de Electrical Engineering and Afdeling Instrumentatie van de Branchevereniging".

Hoofdinhoud van de bijeenkomst:

1. De zesde raadsvergadering van de China Instrument Industry Association Electrician Instrument Branch

1. Beveel en kies de zesde voorzitter, plaatsvervangend voorzitter, secretaris-generaal en uitvoerend directeur van de China Instrument and Meter Industry Association Electrotechnical Instruments Branch;

2. Selectie van de "Top tien meest concurrerende ondernemingen in de elektrische apparatuurindustrie in China 2014-2015";

3. Beschrijving van de selectie van uitstekende wetenschappelijke en technologische werkers in de "China Electrical Instrument Industry".

2. Technische seminars en uitwisselingen

1. Het "13e vijfjarenplan" van State Grid en South Grid en sleutelwerk in 2016;

2. De toekomst en ontwikkeling van de viermetercollectie (introductie in binnen- en buitenland);

3. Analyserapport import en export elektrische instrumenten en meters in 2015;

4.JJF1538-2015 Geïnstalleerde AC energiemeter meetinstrument beoordelingseisen

5. De kansen en uitdagingen die ontstaan ​​door de openstelling van de elektriciteitsverkoopzijde voor de elektrische instrumentatie-industrie;

6. Ontwikkeling meettechniek voor intelligente laadpalen;

7. Uit de hardware- en softwareontwerpanalyse van verkeerde uitlijning van slimme energiemeters

8. Onderzoek naar impactenergiemetertechnologie

3. Tentoonstelling van nieuwe informatie, nieuwe technologieën, nieuwe oplossingen, nieuwe apparaten, nieuwe producten, nieuwe behoeften

Inleiding tot het nieuwste onderzoek naar chiptechnologie van Adano Semiconductor Technology (Shanghai) Co., Ltd., Epson Co., Ltd., ROHM Co., Ltd.

4. Interview met bedrijfsvideo

V. Conferentiegesprek voor papers